In unserer neuen Cluster-Schulung Zuverlässigkeit und Lebensdauer elektronischer Systeme erfahren Sie die Grundlagen der modernen Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse für elektronische Systeme – sowohl für den Systementwurf als auch für die Überprüfung durch Simulation und Test. Während der Schulung führen Sie mit den anderen Teilnehmern gemeinsam Tests durch und werten diese aus. So lernen Sie die statistischen Verfahren und gängigen Teststrategien kennen und können diese aktiv erleben, hinterfragen und anwenden. Die Vorgehensweise basiert auf dem beabsichtigten Beanspruchungsprofil, der Testplanung, Fehlerphysik, sowie dessen statistischer Beschreibung und Modellierung. Die Vorträge und Diskussionen finden in deutscher Sprache statt.

Veranstalter: Cluster Leistungselektronik e.V.

Datum: 04.12.2019 – 05.12.2019

Ort: Nürnberg

Kosten: 580 Euro

Zielgruppe: Entwicklungsingenieure, Qualitätsingenieure, Simulationsingenieure

Weitere Informationen und Anmeldung unter: Cluster Leistungselektronik