Gerade bei Zuverlässigkeits- und Lebensdauertests kann viel Geld und Zeit eingespart werden, wenn die Zielstellungen klar sind und vorher eine Testplanung und Stichprobenabschätzungen durchgeführt werden.
Wir bieten umfangreiche Schulungen an, damit Sie genau das erreichen. Unser Fokus liegt dabei auf elektronischen Systemen und Bauteilen. Die Zuverlässigkeits- und Lebendauerkonzepte schließen sowohl die Erstellung von Modellen, als auch die Tests und statistischen Methoden mit ein. Im Mittelpunkt steht auch die praktische Umsetzung bei Ihnen in der Forschung, Entwicklung oder produktionsbegleitend.
Bereits während der Erforschung neuer Technologien, Materialien oder Konzepte sollten die ersten Zuverlässigkeits- und Lebensdauertests durchgeführt werden. Speziell das Verständnis der Ausfallursachen (Physics of Failure) ist für die späteren Phasen wichtig.
Während der Entwicklung werden die Modelle aus der Forschung mit anwendungsnahen Tests abgeglichen und sowohl analytische Ansätze als auch FEM-Berechnungen durchgeführt. Zudem werden typische Verteilungen für einzelne Ausfallursachen ermittelt.
In der Produktion wird nur noch begleitend getestet und die Modelle mit Felddaten feinjustiert. Die aus der Entwicklung erstellten Berechnungen helfen beim Troubleshooting. Feldrückläufer werden mit den Physics of Failure der Forschungsphase abgeglichen.
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Dieser Beitrag beschreibt dein Einstieg in die statistische Zuverlässigkeits- und Lebensdaueranalyse mit dem Beispielen aus der Elektronik. Inhalt sind die Grundlagen von statistischen Verfahren. Dazu zählen Lebensdauerverteilungen für Elektronikbauteile, Hypothesentests und Qualität von Datenmerkmalen. Auch die praktische Datenanalyse ist ein Bestandteil dieses Beitrags. Zusammenfassend finden Sie einige Tipps und Tricks zur statistischen Analyse....
Haben wir Ihr Interesse geweckt? Dann lassen Sie uns über Lebensdauermodelle sprechen!