Beim Highly Accelerated Life Testing (HALT) wird typischerweise entwicklungsbegleitend bis zum Lebensdauerende der Komponente getestet. Während des Tests wird die Belastung solange in Stufen erhöht, bis es zum Ausfall der Baugruppe kommt. Oftmals werden auch verschiedene Belastungen wie Vibrationen und Temperaturerhöhungen kombiniert.

Ein typischer HALT in der Leistungselektronik ist das schrittweise Erhöhen der Spannung bis zum Überschlag. Damit sollen während der Produktentwicklung Designschwächen bzw. Grenzen erkannt werden. Es können auch verschiedene Lieferanten miteinander verglichen werden.