Beschreibt einen Standard-Qualitätstest zur Prüfung von Halbleiteranbindungen wie Lotschichten oder Sinterschichten. Der Halbleiter oder Dummy wird dabei von der Lotschicht abgeschert. Für Lotschichten sind Scherkräfte von 30 MPa ein guter Daumenwert, während bei Sinterschichten der Wert über 40 MPa, besser 50 MPa liegen sollte. Im Gegenzug sind Scherwerte über 100 MPa unerwünscht, da die Verbindung sonst eine zu hohe Festigkeit aufweist und Spannungen im Schichtaufbau nicht ausgleichen kann. Somit kann es zu Brüchen in den Verbindungspartnern kommen.